Demo Avond 2010

Betrouwbaarheid van Elektronica

Info: 

"Bekijk betrouwbaarheid van elektronica vanuit verschillende invalshoeken (chip-verpakking-bord niveau) en leer hoe het ene niveau het andere kan beïnvloeden."
"Maak kennis met de wetenschappelijke methodiek bij de ontwikkeling en realisatie van elektronica."
"Gebruik die kennis om de complexiteit te beheersen en de betrouwbaarheid te borgen."
"Ervaar de kracht van deze methode ten opzichte van ervaringsgebaseerd werken."

In dit demo event wordt aangegeven hoe een IC-geinspireerde wetenschappelijke methodiek een krachtige hefboom vormt om het hoofd te bieden aan de belangrijke uitdagingen van de elektronische productontwikkeling.

 Programma

Presentations: 
  • Presentation: Intro (Geert Willems - imec)
  •  Presentation: Aanpak van betrouwbaarheid op IC niveau (Guido Groeseneken - imec)
  •  Presentation: Aanpak van betrouwbaarheid van microsystemen en innovatieve verpakkingen (Ingrid De Wolf - imec)
  •  Presentation: PBA Falingen ... en hoe ze te vermijden (Geert Willems - imec)
  •  Presentation: Praktische mededelingen
  •  Recordings

Posters:

  •  Poster: Flexible and Stretchable Electronics (CMST)
  •  Poster: Van Ruwe Data tot Levensduurvoorspelling: Analysevoorbeeld van Diëlektrische Doorslag in Oxide (DRE)
  •  Poster: Het EDM Programma (EDM)
  •  Poster: PCB/PBA Failure Modes Part 1 (EDM)
  •  Poster: PCB/PBA Failure Modes Part 2 (EDM)
  •  Poster: Inductive Powering for Sustainable Operations of Medical Devices (ESAT)
  •  Poster: Research Domains (IMOMEC)
  •  Poster: Reliability Services (IMOMEC)
  •  Poster: Opportunities for HALT in Designing Robust Electronic Systems (KHBO)
  •  Poster: Reliability of Photovoltaic Modules 1 (PV)
  •  Poster: Reliability of Photovoltaic Modules 2 (PV)
  •  Poster: (Q-Star)
  •  Poster: REMO: Betrouwbaarheid & Modellering @ imec (REMO)
  •  Poster: MEMS Reliability: FMEA (REMO)
  •  Poster: De Allerslimste Falingsonderzoeker ter wereld weet alles over ... (REMO)
  •  Poster: Van Probleem tot Oplossing: Een Voorbeeld van een Succesverhaal (REMO)
  •  Poster: Reliability of Electronic Circuits Exposed to Radiation

Extra info:

  •  Presentation: Innovation in DFT, Test, Measurement & Prognostics (Q-Star)
  •  Presentation: IC Yield, Reliability and Prognostic Methods using Nanoscale Test Structures (Q-Star)
  •  Presentation: Yield, Reliability and Prognostic Methods using Nanoscale Test Structures (Q-Star)
  •  Presentation: Prognostic Health Management for Critical Systems (Q-Star)
  •  Products & Services (Q-Star)
  •  Presentation: Reliability Analysis Using Finite Element Modeling (REMO) 
Date: 
Thursday, December 16, 2010
Agenda: 
  • 17u30 Ontvangst
  • 18u00 Presentaties door Guido Groeseneken (imec), Ingrid De Wolf (imec), Geert Willems (imec)
  • 19u10 Rondleiding, posters en demonstraties
  • Informele netwerkmogelijkheid met hapje en drankje
  • 21u00 Einde van het evenement           
Subscription: 

Click here to subscribe.

Location: 
imec, Kapeldreef 75, 3001 Heverlee